产品和解决方案

FIDIE TC Wafer晶圆传感器

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技术参数
晶圆尺寸 技术项目 规格
FIDIE 有线TC WAFER 9105 测温范围: 0℃ 至 1100 ℃ (K 型TC)
0℃ 至1800 ℃ (C 或 D 型TC)
测温精度: ±1.1℃ 或 ±0.4% (K 型TC)
±4.0℃ 或 ±0.5% (C 或 D 型TC)
晶圆尺寸: 2”, 4”, 6”, 8”, 12”
测温点数: 1 – 34 (可定制)
FIDIE 有线RTD WAFER 9107 测温范围: -40℃ 至 250 ℃
测温精度: ±0.1℃ @ 0℃
晶圆尺寸: 2”, 4”, 6”, 8”, 12”
测温点位: 1 – 65 (可定制)
FIDIE 有线光纤测温 WAFER 9109 测温范围: -40℃ 至 420 ℃
测温精度: ±0.5℃, @ -40~250℃
±1.5℃, @ 250~420℃
晶圆尺寸: 4”, 6”, 8”, 12”
测温点位: 标准 1-4; 或定制
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